A.底波降低或消失
B.有較高的“噪聲”顯示
C.使聲波穿透力降低
D.使聲波穿透力提高
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A.估測(cè)法
B.當(dāng)量法
C.底波高度法
D.測(cè)長(zhǎng)法
A.試塊調(diào)整法
B.預(yù)估調(diào)整法
C.探頭參數(shù)調(diào)整法
D.工件底波調(diào)整法
A.化學(xué)漿糊
B.香蕉水
C.變壓器油
D.水玻璃
A.良好的方向性
B.高能量
C.能在界面上產(chǎn)生反射、折射和波形轉(zhuǎn)換
D.衰減性
A.可以準(zhǔn)確判定缺陷性質(zhì)
B.靈敏度高
C.缺陷判斷率高
D.檢測(cè)速度快
最新試題
技術(shù)監(jiān)督執(zhí)行單位應(yīng)配置開(kāi)展技術(shù)監(jiān)督所必需的裝備，做好（）的宣傳與推廣工作。
金具的機(jī)械載荷試驗(yàn)，加載到（），并保持1分鐘，無(wú)永久變形，并在達(dá)到（）金具沒(méi)有破壞，則載荷試驗(yàn)通過(guò)。
光譜分析（）材料時(shí)，分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。
測(cè)量伸長(zhǎng)用的試樣圓柱或棱柱部分的長(zhǎng)度，包括（）
耐張線夾與接續(xù)金具進(jìn)行握力試驗(yàn)時(shí)，試件中金具與金具之間或金具與夾具之間的導(dǎo)線長(zhǎng)度應(yīng)不小于導(dǎo)線外徑的（），且不小于（）。
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）
輻射防護(hù)的主要手段有（）
利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測(cè)時(shí)，到達(dá)作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)后，應(yīng)檢查被檢材料和環(huán)境是否存在影響分析結(jié)果的因素，如果有，必須清理干凈。以下屬于這些因素的有（）
各級(jí)物資（分）公司在上級(jí)物資部門的組織下，開(kāi)展（）階段的技術(shù)監(jiān)督工作。
隔離開(kāi)關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用（）檢測(cè)。