單項(xiàng)選擇題鄰近壓電芯片的超聲場(chǎng)為近場(chǎng),其長(zhǎng)度在頻率給定時(shí),隨芯片直徑增加而()。

A.擴(kuò)散
B.增大
C.不變
D.減小


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1.單項(xiàng)選擇題缺陷當(dāng)量是指()的大小。

A.缺陷真實(shí)
B.相當(dāng)于人工缺陷
C.探頭移動(dòng)距離

2.單項(xiàng)選擇題單探頭法探測(cè)與波束軸線()缺陷最易發(fā)現(xiàn)。

A.平行的
B.垂直的
C.傾斜的

5.單項(xiàng)選擇題在射線透照探傷中,底片黑度值可用()測(cè)定。

A.透度計(jì)
B.黑度計(jì)
C.黑度片
D.增感屏