A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
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A.低頻檢驗
B.高頻檢驗
C.軸向和徑向檢驗
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.選擇性范圍
D.分辨率范圍
A.表面波的斜射接觸法
B.垂直縱波接觸法
C.表面波水侵法
D.橫波斜射法
A.連續(xù)顯示法
B.A掃描顯示
C.B掃描顯示
D.C掃描顯示
A.自動記數(shù)裝置
B.A掃描顯示
C.B掃描顯示
D.C掃描顯示
最新試題
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
衍射時差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時,在直通波和底面反射波之間,接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
分辯率可使用通用探傷儀進行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。