單項(xiàng)選擇題采用直接接觸法超聲波探傷時(shí),熒光屏上產(chǎn)生雜波和無(wú)規(guī)則信號(hào)的原因可能是()

A.細(xì)晶組織;
B.耦合劑不清潔;
C.表面粗糙;
D.粗晶組織


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1.單項(xiàng)選擇題采用較高的探測(cè)頻率可以()。

A.提高對(duì)小缺陷的檢測(cè)能力
B.降低對(duì)缺陷的定位精度
C.減少對(duì)相鄰缺陷的分辨率

2.單項(xiàng)選擇題在探頭直徑不變的情況下,擴(kuò)散角小則聲束近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度必定()。

A.大
B.與擴(kuò)散角無(wú)關(guān)
C.小
D.應(yīng)視頻率和介質(zhì)特性綜合決定,不能一概而論

3.單項(xiàng)選擇題斜探頭分辨率的校定是用()。

A.用φ2mm平底孔
B.φ40,φ44,φ50三個(gè)同心圓弧面
C.R50和R100圓弧
D.窄槽處標(biāo)有85,91,100mm

5.單項(xiàng)選擇題以頻率來(lái)表征聲波,下面那一種屬于聲波()。

A.1500Hz
B.20KHz
C.2500Hz
D.0.5MHz

最新試題

對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。

題型:判斷題

缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。

題型:判斷題

衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。

題型:判斷題

當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。

題型:判斷題

當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。

題型:判斷題

由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。

題型:判斷題

液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。

題型:判斷題

分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位,必要時(shí)可加匹配線圈。

題型:判斷題

為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。

題型:判斷題

檢測(cè)曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。

題型:判斷題