A.60度
B.30度
C.45度
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A.>3N
B.<3N
C.>1N
A.當(dāng)量
B.延伸度
C.F/BG
A.2.5和7.5
B.3和7
C.2和8
A.10mm
B.4mm
C.一個(gè)波長
D.4倍波長
A.探頭功率
B.耦合問題
C.檢查裝置的重復(fù)頻率
最新試題
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
無論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
在檢測晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
檢測曲面工件時(shí),探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。