A.通電線圈
B.復(fù)合
C.直接通電
D.芯棒
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A.通電線圈
B.復(fù)合
C.直接通電
D.芯棒
A.通電線圈
B.磁軛
C.交流
D.直流
A.通電線圈
B.觸頭
C.交流
D.直流
E.磁軛
A.潤濕角θ小于90°
B.潤濕角θ大于90°
C.潤濕角θ=90°
D.與潤滑角是無關(guān)的
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
最新試題
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會受到影響。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
缺陷垂直時,擴(kuò)散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。