缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。

超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴重，定量會受到影響。

為了減少側壁的影響，必要時可采用試塊比較法進行定量，以便提高定量精度。

對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實心圓柱體時，入射點處的回波聲壓實際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。

電磁超聲探頭在工件的表層內產生的渦流，在外加磁場的作用下，在工件中形成超聲波波源。

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。

超聲波在圓柱內反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉換，且一次反射橫波再經另一側圓柱面波形轉換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。

當探頭的性能不佳時出現兩個主聲束，發(fā)現缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。

儀器時基線比例一般在試塊上調節(jié)，當工件與試塊的聲速不同時，儀器的時基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。

對于比正?？v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。