判斷題探頭中壓電芯片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械質(zhì)量因素Qm,減少機(jī)械損耗。
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最新試題
液浸探傷,調(diào)整工件表面與探頭的距離是使聲波在水中傳播時間和在工件中傳播時間相等。
題型:判斷題
超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時,聲束入射角等于反射角。
題型:判斷題
探頭芯片輻射的縱波,其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑,聲程成正比。
題型:判斷題
超聲波探傷,應(yīng)用人工反射體參考試塊,主要目的是提供確定缺陷尺寸的方法。
題型:判斷題
超聲探傷,能夠探測的缺陷尺寸,一般不小于一個波長。
題型:判斷題
不同類型的膠片,基本*區(qū)別在溴化銀的粒度。
題型:判斷題
對順磁性,逆磁性的工件,通常采用磁粉探傷方法檢測。
題型:判斷題
超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上,其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。
題型:判斷題
滲透探傷的滲透性能主要是滲透能力和滲透速度。
題型:判斷題
超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。
題型:判斷題