一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括（）

射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

對于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。