二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉?lái)的（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）