A.卡件PARITY BIT參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤
B.卡件DEVICE TAG參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤
C.卡件DATA BIT參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤
D.卡件STOP BIT參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤
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A.通訊線接反了
B.通訊線受干擾了
C.通訊線端子松動(dòng)了
D.通訊線太長(zhǎng)了
A.外部通訊
B.求平均值
C.上升沿
D.下降沿
A.ALT
B.PID
C.RS
D.TO
A.允許網(wǎng)絡(luò)的最大地址
B.網(wǎng)絡(luò)中最后一個(gè)節(jié)點(diǎn)地址
C.連接網(wǎng)絡(luò)中的電腦應(yīng)該設(shè)置的地址
D.網(wǎng)絡(luò)中第一個(gè)節(jié)點(diǎn)地址
A.單位時(shí)間內(nèi)載波參數(shù)變化的次數(shù)
B.單位時(shí)間內(nèi)信號(hào)線上信號(hào)變化次數(shù)
C.單位時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)高電平的次數(shù)
D.單位時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)低電平的次數(shù)
最新試題
校驗(yàn)Ⅲ型數(shù)字壓力顯示儀時(shí)采用4~20mA電流源作為()
CPU與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)一樣,也是采用()操作原理,一個(gè)操作一個(gè)操作地順序進(jìn)行。
采用軌跡測(cè)試時(shí)首先應(yīng)對(duì)差壓傳感器進(jìn)行()和調(diào)整。
下列不屬于差壓傳感器測(cè)試方法的是()
在每次校驗(yàn)工作完成后要將便攜式溫度校驗(yàn)儀升溫到60~100℃,穩(wěn)定10min,是為了防止()
采用重力校準(zhǔn)器對(duì)差壓傳感器進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,測(cè)試時(shí)將其()與校準(zhǔn)器相連。
順時(shí)針調(diào)整電容式差壓變送器零點(diǎn)會(huì)使輸出()
衡量DAC性能的主要標(biāo)志是()
電容式差壓變送器的電流差和可動(dòng)極板(檢測(cè)膜片)中心位移的關(guān)系為()
差壓變送器取壓方式屬于()取壓。