利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。

單探頭法容易檢出（）。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。