底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準(zhǔn)。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

儀器水平線性影響（）。

（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。

利用底波計算法進行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點，說法錯誤的是（）。

利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。