A.縱傷
B.橫傷
C.氣孔
D.夾雜
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A.采用小晶片
B.減少激發(fā)脈沖寬度和減少換能器自由振蕩時間
C.采用低頻晶片
D.采用方晶片
A.接收到的聲壓變化
B.頻率改變
C.脈沖幅度升高
D.波型改變
A.X射線穿透法
B.超聲穿透法
C.寬頻窄脈沖超聲反射法
D.三種方法都有
A.校準(zhǔn)探頭頻率
B.提高探傷靈敏度
C.校驗探測系統(tǒng)和作為質(zhì)量評判的參考
D.三種作用都有
A.斷續(xù)分布的長條狀缺陷
B.熱處理參數(shù)不當(dāng)而產(chǎn)生的內(nèi)裂紋
C.殘余應(yīng)力
D.上述三種缺陷都有
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。