在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

（）是影響缺陷定量的因素。

（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。

超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。