A、1.0-3.0
B、1.8-4.0
C、2.0-4.0
D、1.5-3.5
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A、對(duì)
B、不對(duì)
C、不一定
D、無(wú)此規(guī)定
A、0.02英寸
B、0.03英寸
C、0.04英寸
D、0.07英寸
A、ASME是指雙壁厚度,JIS是指單壁厚度
B、ASME是指單壁厚度,JIS是指雙壁厚度
C、兩者均為雙壁厚度
D、兩者均為單壁厚度
A、單片判讀1.8-4.0,雙片判讀每張1.4以上,合起來(lái)2.8-4.0
B、單片判讀1.8-4.0,雙片判讀每張1.3以上,合起來(lái)2.6-4.0
C、單片判讀2.0-4.0,雙片判讀每張1.3以上,合起來(lái)2.6-4.0
D、單片判讀2.0-4.0,雙片判讀每張1.4以上,合起來(lái)2.8-4.0
A、20
B、3.5
C、4.0
D、30%
最新試題
與直探頭相比,雙晶探頭()
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()
表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是()
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度的是()
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用()
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是()