A、各種像質(zhì)計(jì)設(shè)計(jì)了自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式,規(guī)定了自己的測(cè)定射線照相靈敏度的方法,它們之間不能簡(jiǎn)單換算
B、各種像質(zhì)計(jì)有自己特定的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)形式,但它們測(cè)定射線照相靈敏度的方法是相同或相似的
C、用不同像質(zhì)計(jì)得到的射線照相靈敏度值如果相同,就意味著射線照片的影像質(zhì)量相同
D、以上都不對(duì)
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你可能感興趣的試題
A、不能提供射線照相檢驗(yàn)靈敏度的永久性證據(jù)
B、不能比較兩種不同透照技術(shù)的質(zhì)量高低;
C、不能提供可檢出缺陷尺寸的度量指示
D、不能驗(yàn)證所用透照工藝的適當(dāng)性
A、像質(zhì)計(jì)材質(zhì)和試件有相當(dāng)?shù)纳渚€吸收系數(shù)
B、像質(zhì)計(jì)形狀與尺寸都是已知的
C、像質(zhì)計(jì)和試件一起成像,而用來(lái)鑒定試件品質(zhì)的重要工具
D、像質(zhì)計(jì)并不直接用來(lái)和缺陷尺寸相比較
A、線條型主要功用為顯示照像靈敏度,而孔洞型功用為底片對(duì)比
B、孔洞型主要功用為顯示照像靈敏度,而線條型功用為底片對(duì)比
C、線條型及孔洞型主要功用均為顯示照像靈敏度
D、線條型及孔洞型主要功用均為表示底片對(duì)比
A、不銹鋼
B、鋼
C、鋁
D、與被照物有相同射線吸收系數(shù)的材料
A、顯示缺陷的大小
B、顯示底片的黑度
C、顯示底片的對(duì)比度
D、顯示照相的品質(zhì)
最新試題
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
選擇滲透探傷方法時(shí),對(duì)于疲勞裂紋、磨削裂紋及其它微小裂紋應(yīng)優(yōu)先選用()
在射線照相時(shí),像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在()
散射比的大小與()因素有關(guān)。
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)()
與直探頭相比,雙晶探頭()
焊縫斜探頭探傷時(shí)儀器示波屏?xí)r間軸按1:1調(diào)整后,其始波前沿()
射線照像底片產(chǎn)生黃色灰霧,其原因是()
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。