A.強(qiáng)度不變，波長(zhǎng)減小
B.強(qiáng)度不變，波長(zhǎng)增大
C.波長(zhǎng)減小，強(qiáng)度減小
D.波長(zhǎng)增大，強(qiáng)度減小
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A.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)不變，強(qiáng)度不變；
B.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)不變，強(qiáng)度增加；
C.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)不變，強(qiáng)度減小；
D.產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)增加，強(qiáng)度不變。
A.源的尺寸
B.源的種類
C.曝光時(shí)間
D.焦點(diǎn)尺寸
A.毫安
B.千伏值
C.曝光時(shí)間
D.焦點(diǎn)尺寸
A.陽(yáng)極
B.陰極
C.靶
D.燈絲
A.Fe
B.Al
C.Ti
D.Cu
最新試題
以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是（）
在射線檢測(cè)中，下列哪一種裂紋最難檢測(cè)（）
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是（）
為了提高橫向缺陷檢出率，射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施（）
X射線管焦點(diǎn)有效面積取決于（）
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象（）
射線檢測(cè)存在一定的局限性，下面哪種說(shuō)法是錯(cuò)誤的（）
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷，適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫（）