A.光電效應(yīng)和康普頓效應(yīng)有利于提高照相對(duì)比度
B.電子對(duì)效應(yīng)和康普頓效應(yīng)有利于提高照相對(duì)比度
C.光電效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)有利于提高照相對(duì)比度
D.光電效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)會(huì)降低照相對(duì)比度
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A.對(duì)于低能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì),光電效應(yīng)占優(yōu)勢(shì)
B.對(duì)于中等能量射線和原子序數(shù)低的物質(zhì),康普頓效應(yīng)占優(yōu)勢(shì)
C.對(duì)于高能量射線和原子序數(shù)高的物質(zhì),電子對(duì)效應(yīng)占優(yōu)勢(shì)
D.以上都是
A.吸收和散射
B.衰變和吸收
C.衰變和散射
D.以上都是
A.λ值越小,說(shuō)明該物質(zhì)越不穩(wěn)定,衰變得越慢
B.λ值越大,說(shuō)明該物質(zhì)越不穩(wěn)定,衰變得越快
C.λ值越大,說(shuō)明該物質(zhì)越穩(wěn)定,衰變得越快
A.線狀譜
B.連續(xù)譜
C.標(biāo)識(shí)譜
D.以上都是
A.判定缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸比較準(zhǔn)確
B.檢測(cè)靈敏度受材料晶粒度的影響較大
C.成本較高,檢測(cè)速度不快
D.射線對(duì)人體有傷害
最新試題
下列有關(guān)評(píng)片的敘述哪一條是錯(cuò)誤的()
在射線檢測(cè)中,下列哪一種裂紋最難檢測(cè)()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
下列哪一項(xiàng)對(duì)射線照相有效透照范圍的影響最大()
以下關(guān)于聲發(fā)射檢測(cè)的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
RT檢測(cè)中,控制散射線的方法是采用哪種手段()
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
同位素的含義是()
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象()