A．表面缺陷；
B．內(nèi)部缺陷；
C．表面和近表面缺陷；
D．以上都可以
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A．芯棒法；
B．縱向通電法；
C．磁軛法；
D．觸頭法；
E．磁通貫通法；
F．A，C和E都是
A．表面缺陷；
B．近表面缺陷；
C．A和B都是；
D．以上都不是
A．周向磁化；
B．縱向磁化；
C．偏振磁化；
D．剩余磁化
A．直流；
B．交流；
C．脈動直流；
D．半波整流
A．支桿法；
B．線圈法；
C．磁軛法；
D．芯棒法
最新試題
對于交流線圈，線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
一般說來，進(jìn)行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中，逐漸減小電流至零。
磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場值應(yīng)較小，且每次停留的時(shí)間（周期）要略長。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。