由于超聲波有擴散衰減，所以超聲波檢驗盡可能在近場區(qū)進行。

探頭芯片輻射的縱波，其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑，聲程成正比。

超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上，其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。

液浸探傷，調(diào)整工件表面與探頭的距離是使聲波在水中傳播時間和在工件中傳播時間相等。

超聲探傷，被檢工件厚度大，應考慮靈敏度補償。

超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時，聲束入射角等于反射角。

理想的鏡面大平面，對聲波產(chǎn)生全反射，隨傳播距離的增加其回波聲壓不變。

超聲波垂直入射時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差越小，聲壓往復透過率越低。

只有當?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時，才會有第三臨界角。

渦流的流向與缺陷主平面平行時，缺陷檢出率高。