A.試片厚度為15/100mm
B.槽深為15/100mm
C.試片厚度100微米，槽深15微米
D.槽寬15微米，槽深100微米
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A.10N
B.45N
C.87N
D.177N
A.VA-D
B.FB-W
C.FC-S
D.以上都不合適
A.在任何情況下，只要根據(jù)一種無(wú)損檢測(cè)方法的檢測(cè)結(jié)果，就能斷定被檢對(duì)象的內(nèi)部質(zhì)量情況
B.為了提高無(wú)損檢測(cè)的可靠性，無(wú)論用什么檢測(cè)方法都應(yīng)力求采用最高的檢測(cè)靈敏度
C.無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果可以作為評(píng)定工件或材料質(zhì)量的重要依據(jù)，但有時(shí)也需要根據(jù)其他檢驗(yàn)方法所得到的檢測(cè)參數(shù)作綜合評(píng)定
D.由于無(wú)損檢測(cè)的結(jié)果往往來(lái)自間接獲得的物理參數(shù)，因此這種結(jié)果僅僅提供了對(duì)工件或材料評(píng)價(jià)的、不重要的參考數(shù)據(jù)
A.TC135
B.TC17
C.TC44
D.以上都是
A.靈敏度
B.效率
C.分辨率
D.可靠性
最新試題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。