A、顯像粉
B、顏料
C、熒光物質(zhì)
D、以上都可
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A、乳化劑
B、現(xiàn)象劑
C、滲透劑
D、以上各點(diǎn)
A、水洗型
B、后乳化型
C、溶劑去除型
D、以上各種
A、干式顯象法
B、濕式顯象法
C、無顯象劑顯象法
D、以上各點(diǎn)
A、施加顯象劑的時(shí)間
B、施加顯象劑到開始觀察的時(shí)間
C、從顯象劑干燥到開始觀察的時(shí)間
D、施加顯象劑到觀察結(jié)束的時(shí)間
A、10℃
B、20℃
C、30℃
D、40℃
最新試題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
滲透檢測(cè)焊縫,對(duì)焊縫及熱影響區(qū)表面進(jìn)行清理,可以采用()。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng),X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有()。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
鋼材的熱處理的一般過程中會(huì)出現(xiàn)()。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用()進(jìn)行檢測(cè)。
下列關(guān)于照射場(chǎng)的大小對(duì)散射比的影像的說法,錯(cuò)誤的有()。
用縱波直探頭確定缺陷平面位置時(shí)需要考慮的問題有()。
磁性成像可分為磁場(chǎng)成像和磁性成像,對(duì)其描述正確的有()。