探頭主聲束（）將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。

用雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度，檢測(cè)細(xì)長(zhǎng)缺陷應(yīng)使探頭（）。

顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?，在整張底片范圍出現(xiàn)，其產(chǎn)生的原因是（）。

單晶體金屬特點(diǎn)有（）。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

超聲波檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷，在不同的方向上檢測(cè)，缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài)，判定為（）。

超聲檢測(cè)時(shí)對(duì)工件無(wú)腐蝕的耦合劑是（）。

利用鋼材磁特性曲線制定周向磁化規(guī)范時(shí)，連續(xù)法周向磁場(chǎng)的選擇一般應(yīng)在（）之間為宜。

非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。

對(duì)滲透探傷無(wú)影響的是（）。