鑄件熒光滲透檢測(cè)時(shí)，（）。

非熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，可見光照度不小于1000lx，并應(yīng)避免（）。

采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說法正確的有（）。

潤(rùn)濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象，發(fā)生潤(rùn)濕時(shí)（）。

阻止?jié)B透液滲入及滲出表面開口缺陷的固體污染物有（）。

磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用（）方法。

Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。

大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。

超聲波探傷儀要盡量避免在（）場(chǎng)合使用。

探頭主聲束（）將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。