A.發(fā)射脈沖要盡量狹窄
B.探頭晶片衰減要快
C.前置放大器阻塞時(shí)間盡量短
D.上述三者全是
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A.變寬
B.變窄
C.不變
D.都不是
A.30kHz
B.20kHz
C.10kHz
D.5kHz
A.試塊方式
B.底波方式
C.F/B方式
D.A、B兩種
A.射聲束方向與兩種介質(zhì)聲特征阻抗
B.入射聲束方向與兩種介質(zhì)聲速
C.入射聲束方向與界面上耦合劑種類
D.A、B、C都是
A.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)
B.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)傳遞
C.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播
D.B和C
最新試題
使后乳化滲透探傷失敗的主要原因是乳化過(guò)度。
對(duì)工件表面預(yù)處理時(shí)一般不推薦采用噴砂處理是因?yàn)榭赡馨压ぜ砻嫣幚淼牟桓蓛簟?/p>
比較兩種滲透劑裂紋探測(cè)靈敏度的較好方法是用帶裂紋的A型鋁試塊。
采用噴洗法去除殘留于工件表面的滲透液時(shí),粘度低的滲透劑不容易從裂紋中除掉。
滲透液在毛細(xì)管中的表面是凹面形狀。
將白色粉末狀的顯像材料調(diào)勻在有機(jī)溶劑中,同溶劑去除型滲透液一起使用的顯像方法是快干式顯像法。
采用溶劑去除零件表面多余的滲透劑時(shí),溶劑的作用是溶解滲透液并將其去除。
能夠正確反映滲透探傷靈敏度的試塊應(yīng)具備的條件是具有寬度要求和相當(dāng)長(zhǎng)度的表面裂紋、具有規(guī)定深度的表面裂紋、裂紋內(nèi)部不存在粘污物。
滲透探傷不能發(fā)現(xiàn)工件內(nèi)部的孔洞。
施加熒光滲透劑之前,零件上的酸性材料去除不干凈會(huì)引起在零件上形成永久性銹斑。