A、縱波
B、橫波
C、表面波
D、切變波
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A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
B、與界面二邊材料的密度有關(guān)
C、與界面二邊材料的聲速有關(guān)
D、與入射聲波波型有關(guān)
A、透射能量大于入射能量
B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180º
C、超聲波無法透入水中
D、以上都不對(duì)
A、能量守恒定律在這里不起作用
B、透射能量大于入射能量
C、A與B都對(duì)
D、以上都不對(duì)
A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減
B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和投射
C、在傳播時(shí)的散射
D、擴(kuò)散角大小
A、剪切波
B、壓縮波
C、橫波
D、瑞利表面波
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
儀器水平線性影響()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。