A、聲束細(xì),每次掃查探測(cè)區(qū)域小,頻率低
B、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷,通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)
D、以上都是
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A、靈敏度高
B、橫向分辨率高
C、縱向分辨率高
D、探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高
A、Ф0.6mm
B、Ф1mm
C、Ф2mm
D、Ф0.3mm
A、Ф1mm
B、Ф2mm
C、Ф4mm
D、Ф0.5mm
A、增大6db
B、減少6db
C、增大3db
D、減少3db
A、增大6db
B、減少6db
C、增大3db
D、減少3db
最新試題
儀器水平線(xiàn)性影響()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。