A.爬波探頭的外形和結構與橫波斜探頭類似
B.當縱波入射角大于或等于第二臨界角時,在第二介質中產(chǎn)生爬波
C.爬波用于探測表層缺陷
D.爬波探測的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關
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A.鈦酸鋇(CL=5470m/s)
B.鈦酸鋰(CL=7400m/s)
C.PZT(CL=4400m/s)
D.鈦酸鉛(CL=4200m/s)
A.石英
B.鋯鈦酸鉛
C.偏鈮酸鉛
D.鈦酸鋇
A.石英
B.硫酸鋰
C.鋯鈦酸鉛
D.鈮酸鋰
A.探測近表面缺陷
B.精確測定缺陷長度
C.精確測定缺陷高度
D.用于表面缺陷探傷
A.石英
B.鈦酸鋇
C.鋯鈦酸鉛
D.硫酸鋰
最新試題
儀器水平線性影響()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。