單項(xiàng)選擇題表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（）
A.缺陷深度
B.缺陷至探頭前沿距離
C.缺陷聲程
D.以上都可以
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1.單項(xiàng)選擇題如果在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2的整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
2.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，選用鏡片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）
A.曲面探傷時(shí)可減少耦合損失
B.可減少材質(zhì)衰減損失
C.輻射聲能大且能量集中
D.以上全部
3.單項(xiàng)選擇題超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）
A.較低頻探頭
B.較粘的耦合劑
C.軟保護(hù)膜探頭
D.以上都對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度？（）
A.直探頭探傷法
B.脈沖反射法
C.斜探頭探傷法
D.穿透法
5.單項(xiàng)選擇題CSK-ⅡA試塊上的Φ1×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場(chǎng)，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（）相同
A.長(zhǎng)橫孔
B.平底孔
C.球孔
D.以上B和C
最新試題
單探頭法容易檢出（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題