A.系統(tǒng)ROM
B.系統(tǒng)RAM
C.用戶ROM
D.用戶RAM
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A.中央處理器（CPU）
B.存儲(chǔ)器
C.輸入輸出接口
D.顯示器
A.系統(tǒng)程序存儲(chǔ)區(qū)
B.過程數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)
C.用戶程序存儲(chǔ)區(qū)
D.系統(tǒng)RAM存儲(chǔ)區(qū)（包括I／O映像區(qū)和系統(tǒng)軟設(shè)備等）
A.高速計(jì)數(shù)器模塊
B.定位模塊
C.熱電偶或熱電阻模塊
D.模擬量輸入模塊
A.中央處理單元
B.輸入輸出接口
C.用戶程序
D.I/O擴(kuò)展接口
A.抗干擾性能好
B.輸入模塊可以直接接收現(xiàn)場(chǎng)信號(hào)
C.輸出模塊不能直接驅(qū)動(dòng)交流接觸器、電磁閥等現(xiàn)場(chǎng)執(zhí)行機(jī)構(gòu)
D.可靠性和安全性要求高
最新試題
下列描述中，不屬于一個(gè)完整的儀表故障處理應(yīng)急預(yù)案的是（）。
下列屬于儀表故障處理發(fā)生意外，正確的應(yīng)急預(yù)案措施的是（）。
一個(gè)穩(wěn)態(tài)控制系統(tǒng)，突然遇到階躍信號(hào)沖擊，會(huì)使這個(gè)穩(wěn)態(tài)系統(tǒng)過度到另外一個(gè)（）系統(tǒng)。
某一熱電阻溫度變送器輸出信號(hào)出現(xiàn)無端的波動(dòng)，此時(shí)應(yīng)采取以下措施排除故障原因（）。
ESD因果邏輯圖主要用于（）。
在儀表調(diào)試中，（）是對(duì)儀表性能、儀表管道和儀表線路連接正確性的全面試驗(yàn)，目的在于對(duì)儀表和控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)質(zhì)量、設(shè)備材料質(zhì)量和安裝質(zhì)量進(jìn)行全面的檢查，確認(rèn)儀表工程質(zhì)量符合生產(chǎn)運(yùn)行使用要求。
下列描述中，屬于一個(gè)完整的儀表故障處理應(yīng)急預(yù)案的是（）。
下列描述中（）不屬于ESD關(guān)斷控制系統(tǒng)的組成。
為保證安全平穩(wěn)生產(chǎn)，在制定運(yùn)行儀表檢修方案時(shí)，（）是首先要考慮的因素。
某平臺(tái)新安裝一臺(tái)電磁流量計(jì)調(diào)試完成后，在沒有物料通過流量計(jì)時(shí)，流量計(jì)出現(xiàn)小范圍的流量波動(dòng)，導(dǎo)致的原因主可能是（）。