A.脈沖距離
B.脈沖恢復(fù)時(shí)間
C.超聲波頻率
D.脈沖的重復(fù)頻率
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.發(fā)射電路
B.掃描電路
C.同步電路
D.標(biāo)距電路
A.衰減
B.衍射
C.聲束發(fā)散
D.以上都不是
A.擴(kuò)散衰減
B.吸收衰減
C.散射衰減
D.以上都是
A.波陣面的幾何形狀
B.材料的晶粒度
C.材料的粘滯性
D.以上都是
A.波型轉(zhuǎn)換
B.折射
C.反射
D.以上都是
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
（）是影響缺陷定量的因素。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。