A.直接與距離射源的距離平方成正比
B.直接與物質(zhì)的厚度成正比
C.與物質(zhì)中產(chǎn)生的散射量成反比
D.與物質(zhì)厚度成指數(shù)比
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.并不固定
B.隨管電壓變化
C.隨管電壓的增高而減小
D.以上都是
A.康普頓效應(yīng)
B.電子對(duì)生成
C.光電效應(yīng)
D.吸收
A.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)增加而增加
B.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)增加而降低
C.隨作用物質(zhì)的原子序數(shù)減低而增加
D.隨輻射線的強(qiáng)度降低而增加
A.10KeV-500KeV
B.100KeV-10Mev
C.1.02MeV以上
D.10KeV以下
A.10KeV-500KeV
B.100KeV-10MeV
C.1.02Mev
D.10KeV以上
最新試題
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
影響較大的散射線通常來(lái)自()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()