A.不存在
B.也存在
C.只在動(dòng)態(tài)時(shí)存在
D.只在靜態(tài)時(shí)存在
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A.對(duì)探傷來講,材質(zhì)變化、尺寸變化是干擾源
B.對(duì)材質(zhì)分選講,缺陷情況、尺寸變化是干擾源
C.對(duì)尺寸測量講,缺陷情況、材質(zhì)變化是干擾源
D.以上三句全對(duì)
A.直徑大的大
B.直徑小的大
C.二者零電勢相等
D.零電勢是一恒定值
A.軸向激勵(lì)軸向測量
B.軸向激勵(lì)法向測量
C.法向激勵(lì)軸向測量
D.法向激勵(lì)法向測量
A.穿過式探頭
B.旋轉(zhuǎn)式探頭
C.混合式探頭
D.以上三者都可以
A.激勵(lì)磁場
B.渦流磁場
C.磁疇磁場
D.以上三者都是
最新試題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。