A.點探頭
B.穿過式
C.內(nèi)插式
D.扇形
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A.Φ20棒材表面起皮
B.Φ1絲材夾雜
B.C.10X20矩形管材泄露
D.1000X2000板材表面凹坑
A.穿過式
B.內(nèi)插式
C.旋轉(zhuǎn)式
D.混合式
A.內(nèi)孔探傷
B.零件探傷
C.絲材探傷
D.焊縫探傷
A.只能用于手動探頭
B.只能用于旋轉(zhuǎn)探頭
C.只能用于穿過式探頭
D.以上三種都適應
A.磁差式
B.分壓式
C.電差式
D.分液式
最新試題
X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注,確保定位準確。
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
焊接工藝處理超標缺陷必須閱片的主要目的是()。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
對于圓柱導體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴加控制。