判斷題檢測(cè)近表面缺陷時(shí),最好采用聯(lián)合雙晶探頭。
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二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
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