A.20000
B.24000
C.30000
D.40000
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A.Ι=(1200~2000)/N(A)
B.Ι=(12000~20000)/N(A)
C.Ι=(10000~15000)/N
D.Ι=(10000~12000)/N
A.安培數(shù)
B.安匝數(shù)
C.瓦特?cái)?shù)
D.歐姆數(shù)
A.熒光磁粉比非熒光磁粉對(duì)缺陷的檢出率高
B.要用與探傷面形成低對(duì)比度的磁粉
C.磁懸液就是磁粉探傷用的水液或油液
D.磁粉越細(xì)越好
A.檢測(cè)表面缺陷
B.檢測(cè)近表面缺陷
C.以上都對(duì)
D.以上都不對(duì)
A.效率高
B.效率低
C.能用于復(fù)合磁化
D.靈敏度高
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
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原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
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