A.電離室的方向性、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
B.電離室的工作電壓、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
C.電離室的工作電壓、方向性、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
D.電離室的工作電壓、方向性、桿效應(yīng)及溫度氣壓的影響
E.電離室的工作電壓、方向性、一致性及溫度氣壓的影響
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你可能感興趣的試題
A.空氣劑量計(jì)、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)、熒光板
B.熱釋光劑量?jī)x、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)、光電倍增管
C.電離室型劑量?jī)x、半導(dǎo)體劑量計(jì)、熱釋光劑量?jī)x、膠片劑量計(jì)
D.非晶硅探測(cè)器、電離室型劑量?jī)x、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)
E.熒光板、半導(dǎo)體劑量計(jì)、膠片劑量計(jì)、熱釋光劑量?jī)x
A.加上俄歇電子的能量時(shí)
B.加上韌致輻射損失的能量時(shí)
C.忽略韌致輻射損失的能量時(shí)
D.忽略俄歇電子的能量時(shí)
E.加上俄歇電子和韌致輻射損失的能量時(shí)
在電子平衡條件下,如果空氣中照射量X為228.2倫琴(1R=2.58×10-4C/kg),則其比釋動(dòng)能K為()
A.100cGy
B.150cGy
C.180cGy
D.200cGy
E.250cGy
A.100cGy
B.150cGy
C.180cGy
D.200cGy
E.250cGy
A.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而減少,直到吸收劑量達(dá)到最小
B.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而增加,直到吸收劑量達(dá)到最大
C.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加先增加然后減少,直到吸收劑量達(dá)到最小
D.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而增加,直到吸收劑量達(dá)到最小
E.介質(zhì)內(nèi)的吸收劑量隨介質(zhì)表面下的深度增加而減少,直到吸收劑量達(dá)到最大
最新試題
治療室屏蔽設(shè)計(jì)考慮的因素有()
對(duì)高能的X射線,通常采用輻射質(zhì)指數(shù)來描述射線質(zhì),用水模體內(nèi)不同深度的值來表示定義為()
60鈷放射源的衰變遵從指數(shù)衰變定律,其半衰期是5.27年(每月衰減約1.1%),一個(gè)5000Ci的源兩年后會(huì)衰減到()
放射工作人員的年劑量當(dāng)量是指一年內(nèi)()
臨床上使用兩個(gè)電子線野相鄰照射時(shí),則()
臨床患者照射時(shí)常用的防護(hù)措施有()
當(dāng)使用電子線照射時(shí),下列方式正確的是()
放射治療中,大約有多少患者需要使用高能電子束治療()
在下列哪種情況下主要采用高能電子束進(jìn)行臨床治療()
高能電子束的PDD曲線可大致分為()