圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
圖是測(cè)試橫波探頭示意圖，根據(jù)圖示判斷是以下哪個(gè)測(cè)試項(xiàng)目（）
A.折射角
B.入射點(diǎn)
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測(cè)示意圖。如果按聲程調(diào)整時(shí)基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β，則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個(gè)公式計(jì)算（）
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中缺陷位置對(duì)應(yīng)的聲束是 （）
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中缺陷位置在哪個(gè)跨距內(nèi)（）
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
圖是橫波檢測(cè)示意圖，圖中標(biāo)注的A、B、C、D4個(gè)水平距離中，哪個(gè)表示2.0跨距（）
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
儀器水平線性影響（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。