A.計點和計量
B.計件和計點
C.計數(shù)和計量
D.計數(shù)和序貫
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A.p0，p1值(P0<p1)應(yīng)由供需雙方協(xié)商決定
B.確定p0時，應(yīng)考慮不合格或不合格品類別及其對顧客損失的嚴(yán)重程度
C.p1的選取，一般應(yīng)使p1與p0拉開一定的距離，即要求p1>p0，IEC推薦p1/p0一般取1.5，2.0或3.0
D.P1/P0的控制有一定。p1/P0過小，放松對質(zhì)量的要求，對使用方不利，但p1/P0過大會增加抽檢產(chǎn)品的數(shù)量，使檢驗費用增加
E.A類不合格或不合格品的p0值要選得比B類的要大；而B類不合格或不合格品的p0值又應(yīng)選得比C類的要小
A.分層抽樣法
B.系統(tǒng)抽樣法
C.類型抽樣法
D.簡單隨機抽樣法
E.計數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型抽樣方案
A.判斷下批產(chǎn)品是否接收
B.分析過程不合格品率的波動情況
C.估計過程平均不合格品率
D.分析產(chǎn)品主要質(zhì)量問題
E.分析產(chǎn)生產(chǎn)品質(zhì)量問題的主要原因
A.一次抽樣最強
B.多次抽樣最強
C.基本一致
D.二次抽樣最強
A. AOQL
B. AQL
C. ATI
D. ASN
E. LQ
最新試題
計數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型抽樣檢驗中，確定抽檢方案的基本要素是p0，p1，關(guān)于p0，p1值(p0
某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%?，F(xiàn)隨機抽取100個檢驗，發(fā)現(xiàn)有7個不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠（）。(取α＝0.05)
在GB/Tl3262--2008中，（）確定抽檢方案的基本要素。
在進行抽樣檢驗時，為使樣本抽取的隨機化而采取的常用的隨機抽樣的方法有（）。
分層抽樣法的優(yōu)點是（）。
GB/Tl3262--2008是以批不合格品率為質(zhì)量指標(biāo)的計數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型一次抽樣檢驗標(biāo)準(zhǔn)。
特殊檢驗水平主要用于（）。
在對進行鑄件檢驗時，根據(jù)樣本中包含的不合格的砂眼數(shù)判斷產(chǎn)品批是否被接受的判定方式屬于（）檢驗。
在其他情況相同的條件下，抽樣類型不同的抽樣方案質(zhì)量保證能力是（）。
利用一次抽樣方案(80，0)對某工序生產(chǎn)的產(chǎn)品進行連續(xù)驗收，并記錄了每批產(chǎn)品樣本中出現(xiàn)的不合格品數(shù)，利用多批檢驗記錄可以用來（）。