A.大于
B.等于
C.小于
D.大于或等于
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A.大于
B.等于
C.小于
D.大于或等于
A.一個(gè)
B.兩個(gè)
C.三個(gè)
D.四個(gè)
A.探傷場(chǎng)地要干凈整潔、通風(fēng)良好
B.探傷前需進(jìn)行拋丸除銹
C.探傷設(shè)備無(wú)需進(jìn)行日常性能校驗(yàn)
D.探傷人員需了解探傷零件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
A.胡亂
B.隨意
C.分別
D.混合
A.發(fā)射電壓過(guò)高
B.重復(fù)頻率過(guò)高
C.放大增益過(guò)高
D.發(fā)射電壓過(guò)低
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
若評(píng)片燈亮度增為原來(lái)的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉?lái)的()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測(cè)的是()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()