A.檢測線圈的阻抗
B.激勵信號的頻率
C.檢測線圈的電壓
D.A或C
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A.開始增大
B.開始減小
C.無顯著變化
D.突然下降
A.B級高于A級
B.A級高于B級
C.A級等于B級
D.以上都不對
A.信噪比低
B.增大端部不可探區(qū)
C.周向靈敏度不均
D.易磨損探頭
下圖為試件電導率變化引起線圈阻抗變化的軌跡,比較圖中A、B兩點的電導率應(yīng)為()。
A.σA=σB
B.σA<σB
C.σA>σB
D.無關(guān)系
A.增加
B.減半
C.減小3/4
D.增加3倍
最新試題
儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當工件與試塊的聲速不同時,儀器的時基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
當工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導致聲速減慢。
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當大的差異。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進入試件的檢測的方法。