單項(xiàng)選擇題開槽的超聲參考試塊可用于（）。
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
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1.單項(xiàng)選擇題超聲波從材料1進(jìn)入材料2，隨聲阻抗比Z1/Z2的增大而透過的聲壓（）。
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
2.單項(xiàng)選擇題鑄件往往難以檢驗(yàn)，是因?yàn)椋ǎ?/a>
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
3.單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，同直徑的平底孔，聲程從200mm增大到300mm，若不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減?。ǎ?。
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
4.單項(xiàng)選擇題表征材料聲學(xué)特性的材質(zhì)衰減，主要是由（）所引起的。
A.散射和吸收
B.波束擴(kuò)散
C.介質(zhì)密度過大
D.缺陷類別
5.單項(xiàng)選擇題晶片較小的探頭遠(yuǎn)場(chǎng)覆蓋面積（）。
A.較小
B.較大
C.與之無關(guān)
D.以上說法均不對(duì)
最新試題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。
題型：判斷題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
通常所謂20KV的X射線是指（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測(cè)的是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題