A.X射線熒光法
B.超聲波反射法
C.游標(biāo)卡尺法
D.千分尺法
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A.X射線熒光法
B.渦流測(cè)量法
C.光截法
D.磁性測(cè)量法
A.現(xiàn)場(chǎng)鍍層檢驗(yàn)
B.經(jīng)常性的實(shí)驗(yàn)室鍍層檢驗(yàn)
C.僅在對(duì)其他鍍層測(cè)量方法存在懷疑時(shí)使用
D.可以進(jìn)行閘刀鍍銀層厚度的非破壞性檢測(cè)
A.磁性鍍層測(cè)厚儀
B.磁感應(yīng)渦流兩用鍍層測(cè)厚儀
C.超聲波測(cè)厚儀
D.渦流鍍層測(cè)厚儀
A.滲透探傷
B.磁粉探傷
C.射線探傷
D.渦流探傷
A.磁粉檢測(cè)
B.滲透檢測(cè)
C.超聲檢測(cè)
D.渦流檢測(cè)
最新試題
科技部門不負(fù)責(zé)（）專業(yè)的全過(guò)程技術(shù)監(jiān)督歸口管理工作。
輸變電螺栓進(jìn)行楔負(fù)載試驗(yàn)，楔墊的角度有（）
利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測(cè)時(shí)，到達(dá)作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)后，應(yīng)檢查被檢材料和環(huán)境是否存在影響分析結(jié)果的因素，如果有，必須清理干凈。以下屬于這些因素的有（）
隔離開(kāi)關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用（）檢測(cè)。
在一般的工業(yè)探傷中，射線與物質(zhì)相互作用時(shí)，主要產(chǎn)生的兩個(gè)效應(yīng)是（）
各級(jí)物資（分）公司在上級(jí)物資部門的組織下，開(kāi)展（）階段的技術(shù)監(jiān)督工作。
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）
技術(shù)監(jiān)督執(zhí)行單位應(yīng)配置開(kāi)展技術(shù)監(jiān)督所必需的裝備，做好（）的宣傳與推廣工作。
DR檢測(cè)技術(shù)與常規(guī)射線檢測(cè)方法相比，其具有特點(diǎn)是（）
技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的（）機(jī)制。