判斷題顯影不足或過(guò)度，會(huì)影響底片對(duì)比度，但不會(huì)影響顆粒度。
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最新試題
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是（）
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下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是（）
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在射線照相檢測(cè)中，當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是（）
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射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的（）
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焊縫射線照相操作中，透照方向確定的基本原則是（）
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雙壁單影透照環(huán)焊縫時(shí)，不滿足Ug要求下，應(yīng)選擇較小焦距，這是為了（）
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以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是（）
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X射線照相時(shí)，設(shè)焦距為650mm，陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°，則其輻射場(chǎng)直徑為（）
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對(duì)于螺栓的檢測(cè)，不適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷，適用的無(wú)損檢測(cè)方法是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題