A、不開坡口
B、V形坡口、X形坡口
C、單U形坡口和雙U形坡口
D、以上都對(duì)
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A、對(duì)接接頭
B、角接接頭
C、搭接接頭和T形接頭
D、以上都對(duì)
A、機(jī)械壓縮
B、熱收縮
C、磁收縮
D、以上都對(duì)
A、引出階段→引弧造渣階段→正常焊接階段
B、引弧造渣階段→正常焊接階段→引出階段
C、焊接階段→引出階段→冷卻階段
D、冷卻階段→焊接階段→引出階段
A、二氧化碳?xì)怏w屬于氧化性氣體,高溫下可以將金屬元素氧化
B、在電弧高溫下,會(huì)分解成一氧化碳和原子態(tài)的氧,易使鐵和其它合金元素氧化、燒損,從而降低焊接接頭的合金元素含量及力學(xué)性能
C、焊接過程中生成的氧化錳、二氧化硅等浮渣,會(huì)產(chǎn)生大量的一氧化碳,形成許多氣孔
D、以上都對(duì)
A、≥90%
B、≥95%
C、≥98%
D、≥99.5%
最新試題
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
直接射向缺陷的波就是()
缺陷檢測(cè)即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。