A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個(gè)球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉(zhuǎn)換為電能而吸收
D、以上都可能
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A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對
A、特性
B、形狀
C、方向
D、以上都不對
A、橫向和縱向兩種振動(dòng)的合成
B、直線振動(dòng)
C、斜振動(dòng)
D、S振動(dòng)
A、按質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向分類
B、按波的形狀分類
C、按振動(dòng)所持續(xù)的時(shí)間分類
D、以上都對
最新試題
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
掃查方式一般視試件的()而定。
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。