單項選擇題能夠在工件上充分記錄工件厚度范圍的叫作()。
A、底片靈敏度
B、底片寬容度
C、底片清晰度
D、源的強(qiáng)度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項選擇題工件對比度受()因素影響最大。
A、試件厚度差
B、射線的質(zhì)
C、散射線
D、以上均不對
2.單項選擇題在散射線的分類中,一般把散射輻射與透射輻射所成的夾角等于小于90°時稱之為()。
A、前散射
B、背散射
C、側(cè)面散射
D、以上都不是
3.單項選擇題顯影時間延長,會使膠片特性曲線形狀變陡,且在坐標(biāo)上的位置()。
A、左移
B、右移
C、上移
D、下移
4.單項選擇題在下列哪種效應(yīng)中,光子以全部能量轉(zhuǎn)換成電子動能()。
A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、電子對生成效應(yīng)
D、電離效應(yīng)
5.單項選擇題衰減系數(shù)υ與()。
A、射線源種類或管電壓有關(guān)
B、被檢材料種類和密度
C、X光管陽極靶原子序數(shù)有關(guān)
D、被檢材料的原子序數(shù)
最新試題
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
題型:單項選擇題
掃查方式一般視試件的()而定。
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
題型:單項選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
題型:單項選擇題
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
題型:單項選擇題
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
題型:單項選擇題
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
題型:單項選擇題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
題型:單項選擇題
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計,其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
題型:單項選擇題