單項(xiàng)選擇題鈷60發(fā)射路徑上遇一1/2時厚鉛塊,劑量率會降低()。
A、1/3
B、1/4
C、1/2
D、3/4
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1.單項(xiàng)選擇題下列各項(xiàng)中不影響射線照片細(xì)節(jié)影像不清晰度的是()。
A、射線源尺寸
B、射線源到膠片距離
C、X射線能量
D、X射線強(qiáng)度
2.單項(xiàng)選擇題曝光過程中,試樣或膠片偶然移動或使用焦距變?。ǎ?/a>
A、產(chǎn)生射線照相底片對比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線照片
3.單項(xiàng)選擇題未曝光膠片儲存的最佳濕度要求是()。
A、35%~-60%之間
B、60%~90%之間
C、50%~75%之間
D、50%~60%之間
4.單項(xiàng)選擇題膠片與鉛箔增感屏一起放在暗盒中的時間過長,又曾處在高溫或高濕環(huán)境中,膠片可能()。
A、產(chǎn)生白色斑點(diǎn)
B、出現(xiàn)樹枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落
5.單項(xiàng)選擇題未曝光的X射線膠片盒保存時應(yīng)()。
A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置
最新試題
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時,移動探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
題型:單項(xiàng)選擇題
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
題型:單項(xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是()
題型:單項(xiàng)選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測量方法。
題型:單項(xiàng)選擇題
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
題型:單項(xiàng)選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型:單項(xiàng)選擇題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
題型:單項(xiàng)選擇題
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
題型:單項(xiàng)選擇題
對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:單項(xiàng)選擇題
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。
題型:單項(xiàng)選擇題