在遠(yuǎn)場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時，缺陷波高與缺陷面積成（）

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）

磁性測厚技術(shù)包括機械式和（）兩種測量方法。

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。

渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

當(dāng)波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。